国家电子质检中心引进先进检测设备 助力海西电子产业竞争力提升
2012-04-26 22:00来源:电子产品检验研究所阅读次数:1824次
4月25日,我院在马尾基地的国家电子信息产品质检中心大楼学术报告厅举办了高加速老化可靠性技术研讨会,来自全省30多家高端电子产品企业的产品研发经理、质量经理等近100人参加会议。
本次会议以我院引进全套美国进口高加速老化测试仪(HALT/HASS)为契机,由国家电子信息产品质检中心资深高级工程师和美方设备专家为企业讲解电子产品环境试验的试验方法和技术突破,内容丰富实用,受到企业界技术人员高度关注。
随着电子产品技术含量迅速提高以及更新换代速度加快,目前传统的老化可靠性试验方法已不能满足电子产品缩短研发周期的试验要求。我院引进全套美国进口高加速老化测试仪(HALT/HASS)及各种大型环境试验设备,建成高加速老化可靠性试验检测平台,可快速激发产品缺陷,缩短试验周期。我省企业无需再奔波于深圳等地,可就近进行研发分析测试,极大缩短研发周期和经费。该平台将为进一步提升我省移动通信、电信终端、金融贸易结算等高端电子产品可靠性质量水平,加强海西电子信息产业品牌建设,提升我省电子产品竞争力提供有力的技术支撑。
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